Zobrazovací
a detekční systémy

Zobrazovací a detekční systémy pro průmyslové i vědecké aplikace. Kategorie obsahuje CCD, sCMOS, emCCD, ICCD, emICCD, InGaAs kamery pro náročné zobrazovací a spektroskopické aplikace. Zároveň obsahuje i komplexní systémy pro zobrazování dějů v kapalinách, plynech i pevných látkách metodami PIV/PTV, LIF, PLIF, DIC, LII, LDV/PDI, "Shadow imaging", atd.


Rady a informace

Nosit roušku má smysl!

Náš dodavatel v oblasti vizualizace a analýzy proudění, firma LaVision, dokázala pomocí zobrazovací metody Schlieren, že nošení roušek má smysl.

Měření profilu svazku průmyslových laserů o výkonu více než 5 kW

Na blížící se konferenci a výstavě Photonics West v San Franciscu představí firma OPHIR nový atenuátor, který posouvá měření profilu svazku průmyslových laserů opět o značný kus dál.

Měřicí přístroj CENTAURI

Představujeme novinku firmy Ophir, měřicí přístroj Centauri.