Novinky
SCION – Řada širokopásmových vysoce citlivých kamer SWIR
Firma Teledyne Vision Solutions představila v těchto dnech novou řadu VIS-SWIR kamer pro náročné průmyslové i vědecké aplikace.
Polohovací systém HybrYX™ pro kontrolu waferů
Firma MKS Newport nabízí řadu vysoce výkonných stolů se vzduchovými ložisky vhodných pro použití v linkách pro kontrolu waferů a dalších aplikacích v polovodičovém průmyslu.
BeamPeek™ - integrovaný systém pro diagnostiku laserového paprsku
Firma Ophir nedávno představila na mezinárodním veletrhu Laser – World of Photonics v Mnichově nový, velmi kompaktní systém pro diagnostiku laserového paprsku BeamPeek™.